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            超聲波探測條件的選擇

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            超聲波探測條件的選擇

            發布日期:2018-02-24 作者: 點擊:

            1.探頭選擇:

            頻率:雙晶直探頭為5MHZ,單晶直探頭為2MHZ~5MHZ,對晶粒粗大鍛件可適當降低頻率,可用1~2.5MHZ。

            晶片尺寸:Ф14~25mm,常用Ф20mm

            雙晶直探頭——檢測近表面缺陷。探頭晶片面積不小于150mm2。

            斜探頭——晶片面積為140mm2~400mm2,頻率為2.5MHZ。探測與表面垂直缺陷宜用K1(45°),必要時用60°~70°相當于K2。

            2.表面要求與耦合劑:

            表面要求:檢測面表面要求平整,最好經機加工,表面粗糙度Ra應小于6.3μm,□工件表面應去除氧化皮、污物等附著物。

            耦合劑:機油、漿糊、甘油等。

            3.掃查方式:

            ——互相垂直兩個方向

            100%掃查

            直探頭

            雙晶直探頭

            斜探頭:周向、軸向各正、反二個方向。

            掃查復蓋面積探頭直徑尺寸15%。

            掃查速度≤150mm/s。

            4.材質衰減測定

            在鍛件上選定三處有代表性部位(完好部位)無損檢測資源網測出第一次底波B1和第二次底波B2的波高分界值。

            這里X≥3N,為單程聲程(厚度或直徑)

            這里X<3N,且滿足

            5.試塊

            ①縱波直探頭:□JB/T4730-2005標準規定CSⅠ型標準試塊。

            ②雙晶直探頭試塊:JB/T4730-2005標準規定CSⅡ型標準試塊。

            適用距離為深度小于45mm。

            ③探測曲面工件時,應使用曲面試塊,曲面試塊為JB/T4730-2005標準規定的CSⅢ型試塊曲率R與工件曲率關系為:

            JB/T4730-2005規定試塊曲率半徑R為工件曲率半徑的0.9~1.5倍。

            GB/T6420-91標準規定工件曲率半徑為試塊曲率半徑R的0.7~1.1倍。

            6.探傷時機:

            熱處理后,槽、孔、臺階等機加工前。

            如熱處理前檢驗(對鍛件形狀不合適熱處理后檢驗的),則在熱處理后仍要再進行檢測。



            相關標簽:超聲波探傷機

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